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8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是電氣二重層電容(EDLC)測(cè)試的最終解決方案。系統(tǒng)包含各種不同范圍的硬件供選擇，系統(tǒng)包含可程序直流電源供應(yīng)器、可編程直流電子負(fù)載、時(shí)序分析儀和LCR表。這套系統(tǒng)是由開放性架構(gòu)的軟件所構(gòu)成的，讓用戶有更多的彈性組合、功能強(qiáng)大與節(jié)省成本的測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)而適用于市面上各種不同范圍的電氣二重層電容(EDLC)。

關(guān)鍵詞 :

8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

所屬分類 :

產(chǎn)品詳細(xì)

Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是電氣二重層電容(EDLC)測(cè)試的最終解決方案。系統(tǒng)包含各種不同范圍的硬件供選擇，系統(tǒng)包含可程序直流電源供應(yīng)器、可編程直流電子負(fù)載、時(shí)序分析儀和LCR表。這套系統(tǒng)是由開放性架構(gòu)的軟件所構(gòu)成的，讓用戶有更多的彈性組合、功能強(qiáng)大與節(jié)省成本的測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)而適用于市面上各種不同范圍的電氣二重層電容(EDLC)。

Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)Electrical Double Layer Capacitor Automatic Test System (EDLC ATS)提供獨(dú)特的高效率測(cè)試命令技術(shù)，可以避免相同的控制命令重復(fù)送到系統(tǒng)的硬件裝置，進(jìn)而顯著提升測(cè)試速度，也讓8801對(duì)高速的生產(chǎn)應(yīng)用為最完美的選擇。

Chroma 8801電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包含符合EIAJ RC-2377標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的精密測(cè)試執(zhí)行步驟項(xiàng)目。本系統(tǒng)提供的特殊測(cè)試編輯功能，可以讓用戶也能依據(jù)自己的需要建立新的測(cè)試項(xiàng)目，也使得用戶有能力去無限制的擴(kuò)增測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)。

這套系統(tǒng)的開放性架構(gòu)軟件還包含統(tǒng)計(jì)分析與管理功能。這些功能使系統(tǒng)有能力產(chǎn)生各式不同的測(cè)試文件與執(zhí)行系統(tǒng)的管理。系統(tǒng)所提供的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能是不可缺少的，這對(duì)于現(xiàn)代化工廠的質(zhì)量保證與生產(chǎn)測(cè)試是極端重要，Chroma 8801 EDLC 測(cè)試系統(tǒng)是可工作在 WindowsR2000/XP 以上的作業(yè)環(huán)境，可以提供測(cè)試工程師一個(gè)容易學(xué)習(xí)的窗口環(huán)境與允許使用微軟所提供的系統(tǒng)資源。

本自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)使用獨(dú)一的完美測(cè)試命令技術(shù)去避免重復(fù)的控制命令被送至系統(tǒng)硬件裝置，使得系統(tǒng)能夠大量提升測(cè)試速度，以及開放性的軟件架構(gòu)，構(gòu)成高效率與完美的 EDLC 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

 

主要特色

●適用電氣二重層電容生產(chǎn)線測(cè)試，測(cè)試參數(shù)包含靜態(tài)容量(Static Capacitance)與內(nèi)部電阻(IR&ESR)(符合EIAJ RC-2377電氣二重層電容測(cè)試方式)

●開放性架構(gòu)軟件平臺(tái) 
-支持含有GPIB 或 RS-232接口儀器 
-測(cè)試項(xiàng)目編輯功能 
-測(cè)試程序編輯功能 
-統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能 
-用戶權(quán)力設(shè)定 
-測(cè)試項(xiàng)目/程序控管功能 
-人員進(jìn)出系統(tǒng)紀(jì)錄 
-多待測(cè)物測(cè)試能力 
-支持條形碼機(jī)

●符合 EIAJ RC-2377 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的精密測(cè)試執(zhí)行步驟項(xiàng)目(C/IR/ESR)

●經(jīng)由系統(tǒng)默認(rèn)測(cè)試項(xiàng)目，可提高測(cè)試生產(chǎn)率

●多頻道同步量測(cè),以減少測(cè)試時(shí)間

●單一直流電源和單一直流電子負(fù)載設(shè)計(jì)

●硬件保護(hù)電路

●最佳成本效益比

●根據(jù)用戶需求可擴(kuò)增硬件

●圖形化接口 Windows®2000/XP 的作業(yè)環(huán)境

推薦產(chǎn)品

Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對(duì)超高壓耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。系列機(jī)種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA?；窘?直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試，對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有專利設(shè)計(jì)OSC開短路偵測(cè) (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對(duì)高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。
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Chroma 7935晶圓檢測(cè)機(jī)為切割后自動(dòng)化晶粒檢測(cè)機(jī)，使用先進(jìn)的打光技術(shù)，可以清楚的辨識(shí)晶粒的外觀瑕疵。結(jié)合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè)。
Chroma58158是一臺(tái)完全遵照國(guó)家 AC LED 元 件標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)規(guī)范所開發(fā)之LED燈具測(cè)試系統(tǒng)。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應(yīng)器與量測(cè)單元，提供 AC LED一個(gè)模擬真實(shí)交流環(huán)境之測(cè)試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學(xué)測(cè)試平臺(tái)，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測(cè)試軟體可測(cè)得 AC LED 各種交 流之光電特性 (詳見規(guī)格表)，亦可整合其他直流電流量測(cè)單元可測(cè)得AC LED之直流光學(xué)特性。

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