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CHT3530-1高精度絕緣電阻測(cè)試儀

CHT3530-1采用CHT3530相同的測(cè)試原理，在精簡(jiǎn)了部分功能后以達(dá)到最佳的性價(jià)比。是ARM處理器控制的智能測(cè)試儀器。輸出0.001V~1000V任意電壓輸出，具有電壓回讀功能基本測(cè)試精度達(dá)0.1%。六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍：1Ω-50TΩ，最大顯示位數(shù)9999數(shù)。

關(guān)鍵詞 :

CHT3530-1高精度絕緣電阻測(cè)試儀

所屬分類 :

產(chǎn)品詳細(xì)

CHT3530-1采用CHT3530相同的測(cè)試原理，在精簡(jiǎn)了部分功能后以達(dá)到最佳的性價(jià)比。是ARM處理器控制的智能測(cè)試儀器。輸出0.001V~1000V任意電壓輸出，具有電壓回讀功能基本測(cè)試精度達(dá)0.1%。六量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍：1Ω-50TΩ，最大顯示位數(shù)9999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)20次/秒，高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了最佳方案。儀器擁有分選功能，分選訊響設(shè)置，還可選配Handler接口，應(yīng)用于自動(dòng)分選系統(tǒng)完成全自動(dòng)流水線測(cè)試。

 

性能特點(diǎn)

1、4.3寸 TFT真彩液晶顯示，同時(shí)顯示電壓、電阻、漏電流

2、寬量程高精度測(cè)試，1Ω-10000TΩ(10~1016Ω)，最高精度 0.3%,漏電流范圍：2mA~10fA

3、測(cè)試電壓0.001V~1000V，連續(xù)可調(diào)，電壓精度0.05%

4、體積電阻Rv，面積電阻Rs測(cè)試功能，R-V，I-V掃描測(cè)試

5、多種接口配置，適合配套自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

 

基本參數(shù)

測(cè)試參數(shù) 絕緣電阻（IR）、微電流（I）、體積電阻率（Rv)、表面電阻（Rs)
基本準(zhǔn)確度 ＜1G：± 0.3%  ≥1G： 0.5%  ≥10G ：2%  ≥1T：5%   ≥100T： 20%
測(cè)量范圍 電阻：1Ω-10000TΩ(10~1016Ω)，電流：2mA~10fA
輸出電壓 DC 1~1000V，1mV步進(jìn)，回讀電壓精度0.05%
量程 六量程自動(dòng)和手動(dòng)
測(cè)試速度 3次/秒、10次/秒、20次/秒
顯示結(jié)果 直讀, ΔABS,Δ%,θ, 分選結(jié)果
最大讀數(shù) 99999 全五位顯示
校正 全量程內(nèi)開路清零
比較器 3組記錄，3檔分選 檔計(jì)數(shù)
觸發(fā)器 內(nèi)部觸發(fā)、手動(dòng)觸發(fā)、外部觸發(fā)
定時(shí)充電器 0.0S~999.9S
接口 RS-232C接口  Handler(PLC)接口
電源要求 電壓：198VAC～240VAC 頻率：47Hz～63Hz 功率：最大50VA
尺寸與重量  外尺寸（mm）：382(長(zhǎng))x249(寬)x102(高) 重量：3.5kg
附件 CHT0303測(cè)試線 、CHT9800 RS232接口電纜
可選附件 CHT0305 測(cè)試電極
 其他 R-V/R-I圖形掃描測(cè)試功能

 

應(yīng)用場(chǎng)合

1、光伏絕緣材料的絕緣性能、濕漏電測(cè)試

2、絕緣材料的體積電阻率和表面電阻率測(cè)量

推薦產(chǎn)品

Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對(duì)超高壓耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。系列機(jī)種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試，對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有專利設(shè)計(jì)OSC開短路偵測(cè) (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對(duì)高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。
Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結(jié)合脈沖測(cè)試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測(cè)于單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。
Chroma 7935晶圓檢測(cè)機(jī)為切割后自動(dòng)化晶粒檢測(cè)機(jī)，使用先進(jìn)的打光技術(shù)，可以清楚的辨識(shí)晶粒的外觀瑕疵。結(jié)合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè)。
Chroma58158是一臺(tái)完全遵照國家 AC LED 元 件標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)規(guī)范所開發(fā)之LED燈具測(cè)試系統(tǒng)。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應(yīng)器與量測(cè)單元，提供 AC LED一個(gè)模擬真實(shí)交流環(huán)境之測(cè)試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學(xué)測(cè)試平臺(tái)，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測(cè)試軟體可測(cè)得 AC LED 各種交 流之光電特性 (詳見規(guī)格表)，亦可整合其他直流電流量測(cè)單元可測(cè)得AC LED之直流光學(xué)特性。

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